국산화에 성공한 반도체 검사 핵심기술을 해외 생산에 사용한 국내 기업 전직 직원 3명이 재판에 넘겨졌다. 피해기업은 기술 유출로 해외 시장을 잃을 경우 연간 400억 원의 매출 손실이 발생할 것으로 추산했다.

지식재산처 기술유출특별사법경찰과와 대전지방공소청은 피해기업의 전직 직원 A씨(45)를 부정경쟁방지법 및 산업기술보호법 위반 혐의로 구속 기소하고, B씨(40)와 C씨(40)를 불구속 기소했다고 밝혔다.

기술경찰이 해외 기술유출 사범을 구속하고 공소청이 기소한 첫 사례다.

수사 결과 A씨 등은 2023년 11월부터 2026년 2월까지 해외 유통기업과 공모해 해외 제조기업을 설립하고, 피해기업의 반도체 검사 핵심기술인 프로브카드 설계도면과 기술자료를 활용해 제품을 생산·공급한 혐의를 받는다. 이들은 기존 연봉의 2배를 제안받고 해외 제조기업으로 이직한 것으로 조사됐다.

프로브카드는 반도체 웨이퍼 단계에서 칩의 불량 여부를 검사하는 핵심 장비다. 피해기업은 해당 기술을 국산화하고 고대역폭 메모리(HBM) 검사 장비까지 개발해 국내외 주요 반도체 기업에 제품을 공급해 왔다. 피의자들은 해당 기술을 적용한 시제품을 2025년 12월 해외에 공급한 것으로 파악됐다.

기술경찰은 국가정보원으로부터 첩보를 입수해 2025년 7월 수사에 착수했다. 이후 국내 설계기업 압수수색 등을 통해 확보한 자료를 분석해 회사명과 출처가 삭제된 기술자료가 피해기업의 기술을 바탕으로 작성·변형됐다는 사실을 밝혀냈다.

해외에 체류 중인 주범 D씨(58)에 대해서는 인터폴 적색수배를 요청했다. D씨는 피해기업의 전직 임원으로, 당국은 신병을 확보하는 대로 수사를 진행할 예정이다.

정연우 지식재산처 차장은 “기업의 핵심기술이 국외로 유출되면 돌이킬 수 없기에 기술유출 사범을 검거하는 것도 중요하지만, 기술유출을 사전에 차단하는 것이 더욱 중요하다”며 해외 기술유출 범죄에 대한 처벌 강화와 범행에 가담한 해외기업도 처벌할 수 있도록 제도 개선을 추진하겠다고 밝혔다.